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粗糙度和輪廓模塊化測量系統(tǒng)Waveline W612

發(fā)布時間:2023.01.12 閱讀量:1159

粗糙度和輪廓模塊化測量系統(tǒng)Waveline W612
產(chǎn)品描述

    Waveline產(chǎn)品線為客戶提供廣泛的表面評價方案,包括便攜式,工作站式。可手動測量,也可實現(xiàn)全自動測量,包括粗糙度測量,輪廓測量,粗糙度輪廓一體式測量,扭紋測量,缸孔表面測量,也可以根據(jù)客戶的需求提供定制方案。

    Waveline 612


    Waveline W612測量站配有Digiscan接觸式測針,用于輪廓測量和附件。


    產(chǎn)品亮點
    - 友好的測量評價界面

    - 機(jī)械系統(tǒng)穩(wěn)定,測量可靠性高

    - 靈活的調(diào)節(jié)功能,使測針輕松達(dá)到測量位置

    - 快速更換適配器,可快速更換探頭系統(tǒng),只需簡單的設(shè)置

    - 同時采用模塊化設(shè)計,能根據(jù)您的要求提供適合精度,并且后續(xù)可以擴(kuò)展配置

    測針
    - 粗糙度和輪廓的接觸式測針

    - 高分辨率的粗糙度輪廓傳感器

    - 成熟并精準(zhǔn)的測臂與測針技術(shù)

    - 所有測針均配有磁吸功能,可快速更換測針

    - 所有輪廓測針均配有 RFID 自動識別芯片,軟件自動創(chuàng)建測針信息,便于測針更換與校準(zhǔn)

    - 由于創(chuàng)新的進(jìn)給系統(tǒng),測量點可自由進(jìn)入

    Details 細(xì)節(jié)展示

    手動調(diào)整高度,以實現(xiàn)探頭的精確定位


    多樣化的安裝選擇:可選底板,用于安裝在帶有T型槽的大理石上


    粗糙度探頭系統(tǒng)TKU400帶有快速更換適配器,可快速更換


    Software Evovis測量和評估軟件

    Evovis測量和評估軟件為粗糙度和輪廓測量提供統(tǒng)一的操作界面,操作邏輯清晰并配有豐富的輔助功能,可根據(jù)需求設(shè)計獨特的測量任務(wù)。

    - 現(xiàn)代化的用戶界面,只需簡單培訓(xùn)就能安全操作

    - 單獨、自由地設(shè)計測試計劃和協(xié)議,并自動歸檔

    - 根據(jù)ISO 21920、ISO 4287以及其他ISO和國家標(biāo)準(zhǔn)的所有常見表面參數(shù)

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